发明名称 用磁控溅射法在镓砷衬底上外延生长铟砷锑薄膜的方法
摘要 一种用磁控溅射法在镓砷衬底上外延生长铟砷锑薄膜的方法,其特征在于,包括如下步骤:1)以砷化镓单晶片为衬底;2)以用铟、砷和锑单质或含有它们的化合物按原子数比In∶As∶Sb=1∶x∶(1-x)制成的成分均匀的铟砷锑块材料为溅射靶;3)以高纯氩气为溅射气体,其气压为P<SUB>s</SUB>;4)设定溅射生长时的衬底温度为T<SUB>s</SUB>;5)设定溅射生长时的溅射功率为W<SUB>s</SUB>;6)设定溅射生长时靶离衬底的距离为d;7)用上述的生长条件,在一台基压可小于10<SUP>-3</SUP>Pa的磁控溅射仪中生长铟砷锑薄膜。
申请公布号 CN100457964C 申请公布日期 2009.02.04
申请号 CN200510011741.0 申请日期 2005.05.19
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 彭长涛;陈诺夫;吴金良;尹志冈;杨霏
分类号 C23C14/35(2006.01);C23C14/14(2006.01);H01L21/203(2006.01) 主分类号 C23C14/35(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汤保平
主权项 1、一种用磁控溅射法在镓砷衬底上外延生长铟砷锑薄膜的方法,其特征在于,包括如下步骤:1)以砷化镓单晶片为衬底;2)以用铟、砷和锑单质或含有它们的化合物按原子数比In∶As∶Sb=1∶x∶(1-x)制成的成分均匀的铟砷锑块材料为溅射靶;3)以高纯氩气为溅射气体,其气压为Ps,Ps的取值范围是:0.1Pa<Ps<0.15Pa;4)设定溅射生长时的衬底温度为Ts,Ts的取值范围是:750K<Ts<1500K;5)设定溅射生长时的溅射功率为Ws,Ws的取值范围是:20W<Ws<100W;6)设定溅射生长时靶离衬底的距离为d,d的取值范围是:3cm<d<5cm;7)用上述的生长条件,在一台基压小于10-4Pa的磁控溅射仪中生长铟砷锑薄膜。
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