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发明名称
PROBE STRUCTURE WITH ELECTRONIC COMPONENTS
摘要
A probe apparatus can include a substrate, a contact structure attached to the substrate, and an electronic component electrically connected to the contact structure. The electronic component can be attached to the contact structure.
申请公布号
KR20090012242(A)
申请公布日期
2009.02.02
申请号
KR20087028282
申请日期
2008.11.19
申请人
FORMFACTOR, INCORPORATED
发明人
KHANDROS IGOR K.;GRITTERS JOHN K.
分类号
G01R1/067
主分类号
G01R1/067
代理机构
代理人
主权项
地址
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