发明名称 | 化学机械研磨之研磨垫及其方法 | ||
摘要 | 一种化学机械研磨半导体装置两相邻结构的方法。化学机械研磨之方法包括:(a)提供半导体装置,系包含凹穴形成于半导体装置之表面,第一材料层形成于表面之上,且第二材料层形成于第一材料层上并填满凹穴;(b)以研磨垫及实质上无抑制材料之研磨液实质地研磨第一及第二材料层,且研磨垫包含第二材料层之腐蚀抑制材料。 | ||
申请公布号 | TW200905738 | 申请公布日期 | 2009.02.01 |
申请号 | TW096143290 | 申请日期 | 2007.11.15 |
申请人 | 旺宏电子股份有限公司 | 发明人 | 陈俊甫;洪永泰;苏金达;陈光钊 |
分类号 | H01L21/304(2006.01);B24B37/00(2006.01);B24D3/00(2006.01) | 主分类号 | H01L21/304(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 祁明辉;林素华 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行路16号 |