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发明名称
半导体元件之主动区域的隔离方法
摘要
一种半导体元件之主动区域的隔离方法,系于基材形成主动区域的隔离区域,基材为p型矽基材。基材上形成氧化层。氧化层上形成图案化牺牲层以及上方遮罩层,其中上方遮罩层位于该基材隔离区域的上方。并使图案化牺牲层以及上方遮罩层之间形成一间隙后,即可进行一离子植入程序,透过该间隙于基材植入n型离子以形成n型屏障层。接着实施一阳极处理以将n型屏障层间的基材转换成多孔矽,最后进行一氧化制程以将多孔矽氧化成二氧化矽隔离区。
申请公布号
TW200905793
申请公布日期
2009.02.01
申请号
TW096126421
申请日期
2007.07.19
申请人
茂德科技股份有限公司
发明人
吴孝哲;李名言;蔡文立
分类号
H01L21/762(2006.01)
主分类号
H01L21/762(2006.01)
代理机构
代理人
王宗梅
主权项
地址
新竹市新竹科学工业园区力行路19号3楼
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