发明名称 发光元件之元件层构造设计之评估方法及评估装置以及发光元件
摘要 本发明之目的在针对包含有将包含发光层之四层以上的薄膜加以层叠而成的构造之发光元件,以比知方法短的计算时间进行从该发光元件射出的射出光之评估。本发明之发光元件之元件层构造设计之评估方法,系以资讯处理装置,针对包含有将包含发光层之四层以上的薄膜加以层叠而成的构造之发光元件,评估从该发光元件射出的射出光之方法,包含:将构成发光元件之薄膜的参数、以及表示发光层所发出光的光谱之资讯加以输入之输入步骤(S01);生成根据输入的参数之,表示只在薄膜的层叠方向做了网格分割的发光元件之资讯,使用该生成的资讯、及表示发光层所发出光的光谱之资讯而以FDTD法算出射出光的光谱之光谱算出步骤(S03);以及将表示所算出的射出光的光谱之资讯予以输出之光谱资讯输出步骤(S03)。
申请公布号 TW200906214 申请公布日期 2009.02.01
申请号 TW097124682 申请日期 2008.07.01
申请人 住友化学股份有限公司 发明人 野文洋
分类号 H05B33/12(2006.01);G06F17/50(2006.01) 主分类号 H05B33/12(2006.01)
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 日本