| 发明名称 | 用于监控参考半电池的方法和设备 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于监控参考半电池(3)的方法，其中参考半电池(3)与测量半电池(2)形成用于确定和/或监控介质(7)的离子浓度的电位测量点(1)，并且其中介质(7)的离子浓度是基于在测量半电池(2)和参考半电池(3)之间的测量电路中确定的至少一个测量信号而确定的。根据本发明，测量点(1)被间歇地在操作模式和测试模式中操作，其中在操作模式中测量离子浓度，并且在测试模式中检查参考半电池(3)的操作性能。 | ||
| 申请公布号 | CN100454017C | 申请公布日期 | 2009.01.21 |
| 申请号 | CN200380103414.7 | 申请日期 | 2003.11.13 |
| 申请人 | 恩德莱斯和豪瑟尔分析仪表两合公司 | 发明人 | 托尔斯滕·佩希施泰因;卡特林·肖尔茨;斯万·哈尔蒂希 |
| 分类号 | G01N27/416(2006.01);G01N27/403(2006.01) | 主分类号 | G01N27/416(2006.01) |
| 代理机构 | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 钟强;谷惠敏 |
| 主权项 | 1.用于监控参考半电池(3)的方法，其中参考半电池(3)与测量半电池(2)形成用于确定和/或监控介质(7)的离子浓度的测量点(1)，并且其中介质(7)的离子浓度是基于在测量半电池(2)和参考半电池(3)之间的测量电路确定的至少一个测量信号而确定的，其特征在于测量点(1)被间歇地在操作模式和测试模式中操作，在操作模式中测量离子浓度，以及在测试模式中检查参考半电池(3)的操作性能。 | ||
| 地址 | 德国盖林根 | ||