| 发明名称 | LED光源综合发光特性检测装置 | ||
| 摘要 | 本实用新型提出了一种LED光源综合发光特性检测装置，包括检测样品座、LED特性检测装置，其特征在于：还包括导轨、测控装置和数据处理器；检测样品座设置在导轨上，沿导轨设置至少两个检测工位，每一检测工位上均安装有LED特性检测装置；所述检测样品座在测控装置的控制下沿导轨移动；LED特性检测装置对固定在检测样品座上的样品进行检测，并将检测信号传输至测控装置；数据处理器从测控装置中读取检测信号并对其进行分析处理。本实用新型解决了目前LED检测仪器所普遍存在的集成度低、检测程序复杂等问题，发光特性综合检测能力更为全面，并有效实现了在线连续检测功能。 | ||
| 申请公布号 | CN201184839Y | 申请公布日期 | 2009.01.21 |
| 申请号 | CN200820046974.3 | 申请日期 | 2008.04.28 |
| 申请人 | 广州市光机电技术研究院 | 发明人 | 任豪;罗宇强;李康业;王巧彬 |
| 分类号 | G01M11/02(2006.01);G01M11/00(2006.01);G01R31/00(2006.01);G01J1/00(2006.01);G01J3/28(2006.01) | 主分类号 | G01M11/02(2006.01) |
| 代理机构 | 广州新诺专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 罗毅萍 |
| 主权项 | 1.一种LED光源综合发光特性检测装置，包括检测样品座、LED特性检测装置，其特征在于：还包括导轨、测控装置和数据处理器；检测样品座设置在导轨上，沿导轨设置至少两个检测工位，每一检测工位上均安装有LED特性检测装置；所述检测样品座在测控装置的控制下沿导轨移动；LED特性检测装置对固定在检测样品座上的样品进行检测，并将检测信号传输至测控装置；数据处理器从测控装置中读取检测信号并对其进行分析处理。 | ||
| 地址 | 510663广东省广州市广州高新技术产业区科学城科研路3号 | ||