发明名称 |
微位移光学测试方法及其装置 |
摘要 |
微位移光学测试方法及其装置,涉及微位移、微应变测试方法及其装置。本发明采用下述步骤:1.取杠杆,取投影面;2.在杠杆的短臂上取一点,作为微位移输入端,将待测微位移从微位移输入端输入,经杠杆放大后,再使用光斑位移测定装置测得光斑位移值,经计算得到待测微位移。本发明使用如下装置:包括光斑位移测定装置,还包括杠杆,该杠杆设在支撑上,以杠杆的短臂上的一点作为待测微位移的输入端,在杠杆的长臂上设有激光器,在激光器的前方设有用于显示光斑位移的投影面,上述光斑位移测定装置用于激光器所发出光斑的位移量的获取及微位移的计算。本发明实现了结构简单、测试过程便于操作的目的。 |
申请公布号 |
CN100453967C |
申请公布日期 |
2009.01.21 |
申请号 |
CN200710133891.8 |
申请日期 |
2007.10.12 |
申请人 |
东南大学 |
发明人 |
李建清;吴剑锋;林保平 |
分类号 |
G01B11/00(2006.01);G01B11/16(2006.01);G01D5/26(2006.01) |
主分类号 |
G01B11/00(2006.01) |
代理机构 |
南京经纬专利商标代理有限公司 |
代理人 |
陆志斌 |
主权项 |
1、一种微位移光学测试方法,其特征在于:步骤1取杠杆,将该杠杆设在支撑(9)上并使杠杆形成短臂(8)和长臂(11),在长臂(11)设置激光器(10);取投影面(12),将该投影面(12)置于激光器(10)的前方,且使激光器(10)发出的光斑投射到投影面(12)上,步骤2在杠杆的短臂(8)上取一点,作为微位移输入端,在微位移输入端上连接有一传感臂,用于将待测微位移传递给短臂,待测微位移从微位移输入端输入,并经杠杆放大后,在投影面(12)上产生放大的光斑位移,再使用光斑位移测定装置(16)测得光斑位移值,经计算得到待测微位移。 |
地址 |
210096江苏省南京市四牌楼2号 |