发明名称 一种CRT框架设计方法
摘要 本发明公开了一种CRT框架设计方法,该方法通过对框架底部开口的长轴、短轴和对角轴剖面的最佳尺寸设计,得到本发明框架底部开口尺寸形状,能在保证强度、减小热拱、防止反射和降成本等方面得到矛盾的统一,使框架设计一次成功率明显提高。特别在宽屏类CRT中,减小热拱效果很显著。曾在某宽屏管型研发中,在其它条件不变的情况下,利用本发明方法,经改进框架底部开口尺寸形状,使屏有效面内敏感区域的热拱漂移量减小了30%。
申请公布号 CN101350283A 申请公布日期 2009.01.21
申请号 CN200810150994.X 申请日期 2008.09.16
申请人 彩虹显示器件股份有限公司 发明人 赵天有;徐莉华;赵军;鲁小平;杨威
分类号 H01J29/07(2006.01);H01J29/02(2006.01) 主分类号 H01J29/07(2006.01)
代理机构 西安通大专利代理有限责任公司 代理人 陈翠兰
主权项 1、一种CRT框架设计方法,其特征在于,包括以下步骤:第一步确定框架底部开口的长轴、短轴和对角轴的最小尺寸:利用整管规格参数中关于有效荧光面的长轴、短轴和对角轴尺寸,并将其投影到屏内曲面上,得到屏有效面长轴、短轴和对角轴剖面上的投影点,确定框架底面与屏封接面的相互关系,框架底面与屏封接面相互平行且间距在2.5-10mm以内,整管设计参数中还确定了长轴、短轴和对角轴的理论偏转中心点位置;由整管中心轴线,即过显示屏屏中心点且垂直于屏封接面的轴线,作为一条直角边,过长轴有效面在屏内曲面上的投影点作第一水平线并定名为有效水平距离,作为另一直角边,过长轴剖面上的理论偏转中心点和长轴最大扫描点作一条直线,定名为最小扫描斜边,由整管中心轴线、第一水平线和最小扫描斜边构成了一个直角三角形,定名为长轴最小扫描直角三角形,过扫描斜边和框架底面的交点,作成第二水平线,它和整管中心线和扫描斜边构三者相交构成了一个新的直角三角形,定名为长轴框架最小开口直角三角形;长轴最小扫描直角三角形是完全已知的三角形,而长轴框架最小开口直角三角形与长轴最小扫描直角三角形相似,长轴框架最小开口直角三角形的沿整管中心轴线的直角边的尺寸利用框架底面与屏封接面的尺寸关系直接得到,利用相似三角形的定理,求得斜边和框架底面的交点到整管中心轴线的距离,这就是框架底部开口长轴方向的最小值;同样方法,分别求出框架底部开口短轴、对角轴剖面上的最小值;第二步确定框架底部开口的长轴、短轴和对角轴剖面的最大尺寸;框架侧壁与整管中心轴线平行,根据物理学定律反射物体的入射角与反射角相等,框架反射点被反射的电子束将以最大允许偏转角为反射角被反射,电子束被反射的直线称为框架反射线,与荫罩曲面相交于某点,该点定名为荫罩反射轰击点;由最大电子束轨迹线、整管中心轴线和过框架反射点所作的水平线构成的直角三角形中,由于框架内侧壁到整管中心轴线的距离是已知尺寸,即水平线长度,在设定了最大允许偏转角值后,而此三角形完全可解,据此可确定框架反射点的位置;根据框架反射点和它的反射角值--最大允许偏转角为反射角,就能得到框架反射线的方程,利用成型荫罩的曲面方程,完成框架反射线的方程和成型荫罩的曲面方程的联立方程组,可以求得荫罩反射轰击点的解,将荫罩反射轰击点的水平值与荫罩有效面区域尺寸的尺寸进行比较,若荫罩反射轰击点的水平值小,可适当加大减小最大允许偏转角的设定值,直到荫罩反射轰击点的水平值和荫罩有效面区域尺寸水平值相等,这时荫罩反射轰击点的水平值定名为框架底部长轴开口最大值;仿照相同方法,可以得到短轴、对角轴的最大值;第三步:确定框架底部开口的长轴、短轴和对角轴剖面的最佳值,作为框架设计的确定尺寸;将第一步内的有效水平距离乘以过扫描系数,一般过扫描系数取值为1.08~1.10,在第一步的第一水平线上确定出新的一点,定名为过扫描点,连接过扫描点和长轴偏转中心点,得到一斜线定名为设计扫描线,设计扫描线与框架底面交于一点并将其取名为设计理论点,该点到整管中心轴线的距离定名为框架底部开口水平设计值;框架底部开口水平设计值应大于在第一步中求得的框架底部开口长轴方向的最小值,而小于第二步中求得的框架底部长轴开口最大值。否则应适当调整过扫描系数,直到满足上述要求;用相同方法可完成短轴、对角轴的设计值。
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