发明名称 验证安全装置的方法和由相同方法验证的安全装置
摘要 提供了一种用于验证安全装置的验证方法,该安全装置包括具有多个功能元件的可编程逻辑器件。该验证方法包括以下步骤:在实际的硬件上穷举地验证多个功能元件;使用预定的硬件描述语言,生成与在实际的装置上验证过的功能元件之一相同的功能元件;将每个生成的功能元件独立地逻辑综合为多个第一网表;使用预定的硬件描述语言生成功能元件之间的连接功能;将生成的连接功能逻辑综合为对应于该连接功能的第二网表;将第一网表和第二网表进行综合以生成第三网表;基于第三网表将逻辑电路写入可编程逻辑器件;以及验证实际的可编程逻辑器件。
申请公布号 CN100454196C 申请公布日期 2009.01.21
申请号 CN200610073974.8 申请日期 2006.02.28
申请人 株式会社东芝 发明人 泉干雄;林俊文;小田中滋;酒井宏隆;小田直敬;佐藤俊文;伊藤敏明
分类号 G05B23/00(2006.01) 主分类号 G05B23/00(2006.01)
代理机构 永新专利商标代理有限公司 代理人 王英
主权项 1、一种用于验证包括可编程逻辑器件的安全装置的验证方法,所述可编程逻辑器件包括多个功能元件,所述方法包括以下步骤:预先在实际的硬件上穷举地验证逻辑模式的所有输出是响应于每个功能元件的逻辑模式的所有输入而正常产生的;使用预定的硬件描述语言,生成与在实际的硬件上验证的所述功能元件之一相同的功能元件;将每个生成的功能元件独立地逻辑综合为一个第一网表,从而获得多个第一网表,每个第一网表都对应于所述功能元件之一;使用所述预定的硬件描述语言,生成所述功能元件之间的连接功能;将所生成的连接功能逻辑综合为对应于所述连接功能的第二网表;将所述多个第一网表与所述第二网表综合以生成第三网表;以所述第三网表为基础将逻辑电路写入所述可编程逻辑器件;以及在包括所写入的逻辑电路的所述可编程逻辑器件上验证所述可编程逻辑器件的工作是正常的。
地址 日本东京都