发明名称 一种清晰显示低碳低合金钢奥氏体晶粒的方法
摘要 一种清晰显示低碳低合金钢奥氏体晶粒的方法,属物理检测技术领域。用于解决低碳低合金钢尚无法清晰显示其奥氏体晶粒的问题。本方法包括淬火过程和腐蚀过程,特别之处是:所述腐蚀过程中腐蚀剂配比如下:CrO<SUB>3</SUB> 8g~10g,NaOH 40g~50g,苦味酸1.6g~2g,环氧乙烷2ml~4ml,蒸馏水80ml~100ml。本发明采用特定的腐蚀剂配以合适的腐蚀方法,可以清晰地显示出奥氏体晶界,该方法填补了碳低合金钢奥氏体晶界显示技术的空白,为生产企业研究该类钢变形过程中工艺参数对组织演变的影响提供重要的理论依据,对生产碳低合金钢合理控制工艺参数和保证产品性均可起到重要作用。
申请公布号 CN101349621A 申请公布日期 2009.01.21
申请号 CN200810079326.2 申请日期 2008.09.04
申请人 河北理工大学 发明人 冯运莉;臧振东;宋海武;孙静
分类号 G01N1/32(2006.01) 主分类号 G01N1/32(2006.01)
代理机构 石家庄冀科专利商标事务所有限公司 代理人 周晓萍;曹淑敏
主权项 1.一种清晰显示低碳低合金钢奥氏体晶粒的方法,用于C含量≤于0.10%并含有少量Nb、V、Ti、Mo等微合金元素的低碳低合金钢,它包括淬火过程和腐蚀过程,其特征在于:所述腐蚀过程中腐蚀剂配比如下:CrO3 8g~10g,NaOH 40g~50g,苦味酸1.6g~2g,环氧乙烷2ml~4ml,蒸馏水80ml~100ml。
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