| 发明名称 | 一种电子设备测试装置及测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种电子设备测试装置及测试方法，所述装置包括：电池定位单元，用于将所述电子设备的电池定位在所述电子设备主板的上方；电池连接单元，连接所述主板上的电池座以及所述电池定位单元中的电池，用于将所述电池的电能提供给所述电子设备；主板信号检测单元，连接所述主板上的多个测试点，用于获取主板测试信号；测试点引出单元，连接所述主板信号检测单元以及测试仪器，用于将所述主板测试信号引出至所述测试仪器。该装置采用电池供电，在对PCB板进行测试时能够同时测试电池性能，不需要在PCB上设计专用接口进行软件加载和测试，提高了PCB版面利用率。 | ||
| 申请公布号 | CN101349733A | 申请公布日期 | 2009.01.21 |
| 申请号 | CN200810149197.X | 申请日期 | 2008.09.19 |
| 申请人 | 深圳华为通信技术有限公司 | 发明人 | 陶锐 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01);G01R31/28(2006.01);G01R31/36(2006.01) | 主分类号 | G01R31/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 任默闻 |
| 主权项 | 1、一种电子设备测试装置，其特征在于，所述装置包括：电池定位单元，用于将所述电子设备的电池定位在所述电子设备主板的上方；电池连接单元，连接所述主板上的电池座以及所述电池定位单元中的电池，用于将所述电池的电能提供给所述电子设备；主板信号检测单元，连接所述主板上的多个测试点，用于获取主板测试信号；测试点引出单元，连接所述主板信号检测单元以及测试仪器，用于将所述主板测试信号引出至所述测试仪器。 | ||
| 地址 | 518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 | ||