| 摘要 |
本发明揭示一种用于控制与补偿一发光二极体装置老化之方法，其包括测量该发光二极体装置之光输出中之一效能变化。该发光二极体装置在一第一周期期间系使用一从该测量效能变化导出之第一补偿演算法加以控制，以在该发光二极体装置之光输出中达成一随时间推移之亮度变化。随后，在一第二周期期间，一从该测量效能变化导出且与该第一补偿演算法不同之第二补偿演算法系在该发光二极体装置之光输出中达成一随时间推移之第二亮度变化。该第二周期中之该随时间推移之第二亮度变化系与该第一周期中之该随时间推移之第一亮度变化不同。再者，该第一及该第二周期并合起来系小于该发光二极体装置之寿命。 |
