发明名称 半导体光元件之制造方法
摘要 〔课题〕在稳定地防止波导脊之半导体层与电极层之接触面积减少,且防止该半导体层中的蚀刻损伤。〔解决手段〕本发明系在半导体叠层构造之表面上形成阻剂图案76,藉由乾式蚀刻形成波导脊40,在将阻剂图案76残留在波导脊40之表面上的情形下直接在n-GaN基板12上形成SiO#sB!2#eB!膜78,接着将波导脊40顶部上的SiO#sB!2#eB!膜78露出,而形成具有与p-GaN层74之下面相同程度之高度的表面而埋设通道38之SiO#sB!2#eB!膜78的阻剂图案82,以阻剂图案82为遮罩而去除SiO#sB!2#eB!膜78,在SiO#sB!2#eB!膜78形成开口部44a,藉由使用有机溶媒的湿式蚀刻来去除阻剂图案76与阻剂图案82,而形成p侧电极46。
申请公布号 TW200903936 申请公布日期 2009.01.16
申请号 TW097108667 申请日期 2008.03.12
申请人 三菱电机股份有限公司 发明人 冈贵郁;阿部真司
分类号 H01S5/323(2006.01);H01S5/00(2006.01) 主分类号 H01S5/323(2006.01)
代理机构 代理人 洪澄文
主权项
地址 日本