发明名称 具有暗电流校正之光侦测器
摘要 本发明揭示一种光侦测器及其制造方法。该光侦测器包括一具有第一、第二及第三光二极体之基板及第一与第二颜料滤光层。该等第一、第二及第三光二极体分别产生第一、第二及第三光二极体输出信号,每一光二极体输出信号指示入射在此光二极体上之一光强度;及一独立于该光强度的暗电流。该等第一及第二颜料滤光层在该第一及第二光二极体上而一具有该等第一及第二颜料滤光层两者的层在该第三光二极体上。一输出电路组合该等第一及第三光二极体输出信号以提供一第一校正输出信号,且组合该等第二及第三光二极体输出信号以提供一第二校正输出信号。
申请公布号 TW200902952 申请公布日期 2009.01.16
申请号 TW097107905 申请日期 2008.03.06
申请人 安华高科技(新加坡)公司 发明人 陈帆亨;邱锦恩;谭邦齐
分类号 G01N21/25(2006.01);H01L31/0232(2006.01);H01L31/18(2006.01) 主分类号 G01N21/25(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 新加坡