发明名称 | 应用于电子装置完整性检查之方法及用于对电子装置进行完整性检查之电路 | ||
摘要 | 一种应用于电子装置之完整性检查方法包含:撷取一外部资料之至少一部分至一特定记忆体,其中外部资料系储存于一电子装置;于撷取外部资料之至少一部分至特定记忆体的期间中,检查在特定记忆体中已撷取资料的大小是否达到一预定值,其中预定值系小于外部资料的全部大小;以及当在特定记忆体中已撷取资料的大小达到预定值,致能已撷取资料之完整性检查。 | ||
申请公布号 | TW200903504 | 申请公布日期 | 2009.01.16 |
申请号 | TW097124515 | 申请日期 | 2008.06.30 |
申请人 | 联发科技股份有限公司 | 发明人 | 陈炳盛;赵铭阳;许绩群;张尧敦;吴哲宏 |
分类号 | G11C29/08(2006.01) | 主分类号 | G11C29/08(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 许锺迪 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区笃行一路1号 |