发明名称 闸氧化层之制造方法
摘要 在传统的闸氧化层制程中,位在主动区边缘的闸氧化层会长得比较厚,是因为在主动区的上表面以及侧面会同时生长闸氧化层之故。在浅沟渠隔离制程中填入绝缘层于沟渠内的步骤之前,加入对主动区边缘之基底进行自我对准之氮离子植入步骤来抑制,主动区边缘之闸氧化层的成长速度。如此可达成后续对于主动区边缘之闸氧化层厚度之局部控制,这对于高密度记忆体元件十分重要。
申请公布号 TW200903654 申请公布日期 2009.01.16
申请号 TW096124021 申请日期 2007.07.02
申请人 茂德科技股份有限公司 发明人 陈民良
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L21/8242(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 代理人 王宗梅
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路19号3楼