发明名称 | 单次可程式记忆体及其制造方法 | ||
摘要 | 本发明提出一种单次可程式记忆体及其制造方法。单次可程式记忆体包含了设置于基底上之记忆胞,基底中具有阶梯状之开口,开口具有上层之阶部与下层之凹陷部。记忆胞包含有浮置闸极、选择闸极、第一掺杂区、第二掺杂区与第三掺杂区。其中,浮置闸极设置于凹陷部侧壁,选择闸极设置于阶部侧壁,第一掺杂区设置于凹陷部底部之基底中,第二掺杂区设置于阶部底部之基底中,第三掺杂区则设置于阶部顶端之基底中。 | ||
申请公布号 | TW200903778 | 申请公布日期 | 2009.01.16 |
申请号 | TW096125022 | 申请日期 | 2007.07.10 |
申请人 | 力晶半导体股份有限公司 | 发明人 | 张格荥;张驌远 |
分类号 | H01L27/115(2006.01);H01L21/8247(2006.01) | 主分类号 | H01L27/115(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行一路12号 |