发明名称 |
形成以闸应激源为特色之半导体装置的方法和半导体装置 |
摘要 |
本发明揭示一种半导体装置(10),其系形成于一半导体层(12)内。一闸堆叠(16、18)系形成于该半导体层上,且包含一第一传导层(22)与一在该第一层上的第二层(24)。该第一层系更具传导性且比该第二层提供更多的终止能力至一植入。一物种(46)系植入于该第二层内。源极/汲极区域(52)系形成于该闸堆叠之相对侧上的该半导体层内。在植入步骤之后,加热该闸堆叠,以使该闸堆叠在该闸堆叠下之一区域内的该半导体层内施加应力。 |
申请公布号 |
TW200903659 |
申请公布日期 |
2009.01.16 |
申请号 |
TW097119398 |
申请日期 |
2008.05.26 |
申请人 |
飞思卡尔半导体公司 |
发明人 |
布莱恩A 温斯提;康斯坦丁V 洛可;辛文业 |
分类号 |
H01L21/336(2006.01);H01L29/78(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/336(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
陈长文 |
主权项 |
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地址 |
美国 |