Speichervorrichtung und Verfahren zum Testen einer Speichervorrichtung

摘要

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Testen einer Speichervorrichtung, wobei ein Ausgangspfad der Speichervorrichtung und ein Eingangspfad der Speichervorrichtung miteinander gekoppelt sind. Über den Ausgangspfad der Speichervorrichtung wird ein von einem Testmuster gesteuertes Signal übertragen. Das Signal wird über den Eingangspfad der Speichervorrichtung empfangen und bewertet.