发明名称 一种用于化学机械抛光的抛光头
摘要 本发明公开了一种用于化学机械抛光的抛光头,包括:基座,所述基座下方边缘区域有环状凹槽;保持环隔膜,固定在所述基座的下方,与所述环状凹槽形成保持环腔室;保持环,通过所述保持环隔膜浮动于所述保持环腔室的下方,所述保持环在所述基座的正下方设置有口袋区域,用来容纳晶圆;多腔室隔膜,所述多腔室隔膜有盘状平面,其上集成有多个同心环状肋,所述盘状平面、同心环状肋与所述基座的下表面形成多个相互独立的同心环状腔室。本发明在抛光过程中,可通过同心环状腔室对晶圆背侧的不同区域施加不同的低下压力,从而获得较好的均匀性。
申请公布号 CN101342679A 申请公布日期 2009.01.14
申请号 CN200810118704.3 申请日期 2008.08.19
申请人 清华大学 发明人 路新春;王同庆;朱煜;雒建斌
分类号 B24B29/02(2006.01);B24B41/047(2006.01);H01L21/304(2006.01) 主分类号 B24B29/02(2006.01)
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 代理人 张国良
主权项 1、一种用于化学机械抛光的抛光头,其特征在于,所述抛光头包括:基座,所述基座下方边缘区域有环状凹槽;保持环隔膜,固定在所述基座的下方,与所述环状凹槽形成保持环腔室;保持环,通过所述保持环隔膜浮动于所述保持环腔室的下方,所述保持环在所述基座的正下方设置有口袋区域,用来容纳晶圆;多腔室隔膜,所述多腔室隔膜有盘状平面,其上集成有多个同心环状肋,所述盘状平面、同心环状肋与所述基座的下表面形成多个相互独立的同心环状腔室。
地址 100084北京市海淀区清华园北京100084-82信箱