发明名称 |
砷化镓基量子级联半导体激光器材料及生长方法 |
摘要 |
一种砷化镓基量子级联半导体激光器材料的生长方法,其特征在于,包括如下生长步骤:步骤1:利用分子束外延技术首先在砷化镓衬底上晶格匹配的下包层;步骤2:在晶格匹配的下包层上生长下波导限制层,用来提高波导芯层的折射率,增强光限制;步骤3:在下波导限制层上生长有源区,作为发光区;步骤4:在有源区上生长上波导限制层,用来提高波导芯层的折射率,增强光限制;步骤5:在上波导限制层上生长欧姆接触层,完成砷化镓基量子级联半导体激光器材料的生长。 |
申请公布号 |
CN100452584C |
申请公布日期 |
2009.01.14 |
申请号 |
CN200510086962.4 |
申请日期 |
2005.11.23 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
李路;刘峰奇;刘俊岐;郭瑜;周华兵;梁凌燕;吕小晶 |
分类号 |
H01S5/343(2006.01);H01S5/00(2006.01) |
主分类号 |
H01S5/343(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
汤保平 |
主权项 |
1、一种砷化镓基量子级联半导体激光器材料的生长方法,其特征在于,包括如下生长步骤:步骤1:利用分子束外延技术首先在砷化镓衬底上生长晶格匹配的下包层;步骤2:在晶格匹配的下包层上生长下波导限制层,用来提高波导芯层的折射率,增强光限制;步骤3:在下波导限制层上生长有源区,作为发光区;步骤4:在有源区上生长上波导限制层,用来提高波导芯层的折射率,增强光限制;步骤5:在上波导限制层上生长欧姆接触层,完成砷化镓基量子级联半导体激光器材料的生长;其中在衬底上生长各层之前,均应确定在设定的生长速率和材料组分下铝、镓源炉的束流值,其方法是测量符合设计组分的铝镓砷外延层厚度,除以外延时间,得到在该铝和镓源炉束流值下对应的铝镓砷的生长速率,再根据铝镓砷中的镓、铝组分的比例关系得到镓砷的生长速率进而得到镓源炉的束流值;其中设定的有源区中镓砷生长速率为0.4~0.7μm/h,其余各层的镓砷生长速率为0.8~1.1μm/h。 |
地址 |
100083北京市海淀区清华东路甲35号 |