发明名称 砷化镓基量子级联半导体激光器材料及生长方法
摘要 一种砷化镓基量子级联半导体激光器材料的生长方法,其特征在于,包括如下生长步骤:步骤1:利用分子束外延技术首先在砷化镓衬底上晶格匹配的下包层;步骤2:在晶格匹配的下包层上生长下波导限制层,用来提高波导芯层的折射率,增强光限制;步骤3:在下波导限制层上生长有源区,作为发光区;步骤4:在有源区上生长上波导限制层,用来提高波导芯层的折射率,增强光限制;步骤5:在上波导限制层上生长欧姆接触层,完成砷化镓基量子级联半导体激光器材料的生长。
申请公布号 CN100452584C 申请公布日期 2009.01.14
申请号 CN200510086962.4 申请日期 2005.11.23
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 李路;刘峰奇;刘俊岐;郭瑜;周华兵;梁凌燕;吕小晶
分类号 H01S5/343(2006.01);H01S5/00(2006.01) 主分类号 H01S5/343(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 汤保平
主权项 1、一种砷化镓基量子级联半导体激光器材料的生长方法,其特征在于,包括如下生长步骤:步骤1:利用分子束外延技术首先在砷化镓衬底上生长晶格匹配的下包层;步骤2:在晶格匹配的下包层上生长下波导限制层,用来提高波导芯层的折射率,增强光限制;步骤3:在下波导限制层上生长有源区,作为发光区;步骤4:在有源区上生长上波导限制层,用来提高波导芯层的折射率,增强光限制;步骤5:在上波导限制层上生长欧姆接触层,完成砷化镓基量子级联半导体激光器材料的生长;其中在衬底上生长各层之前,均应确定在设定的生长速率和材料组分下铝、镓源炉的束流值,其方法是测量符合设计组分的铝镓砷外延层厚度,除以外延时间,得到在该铝和镓源炉束流值下对应的铝镓砷的生长速率,再根据铝镓砷中的镓、铝组分的比例关系得到镓砷的生长速率进而得到镓源炉的束流值;其中设定的有源区中镓砷生长速率为0.4~0.7μm/h,其余各层的镓砷生长速率为0.8~1.1μm/h。
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