发明名称 |
半导体记忆装置 |
摘要 |
谋取SRAM的动作范围的扩大,和相对于多列存储单元列具有一个输出入电路的SRAM的小面积化。在具有第一及第二负载晶体管(ML1、ML2)、第一及第二驱动晶体管(MD1、MD2)、和第一及第二存取晶体管(MA1、MA2)的存储单元(20)中,附加了:介于第一比特线(BL)及第一记忆节点(D)之间的,且具有连接于第一列线(CL1)的栅极端子的第三存取晶体管(WA1),和介于第二比特线(NBL)和第二记忆节点(ND)之间的,且具有连接于第二列线(CL2)的栅极端子的第四存取晶体管(WA2)。 |
申请公布号 |
CN101345082A |
申请公布日期 |
2009.01.14 |
申请号 |
CN200810099898.7 |
申请日期 |
2008.06.06 |
申请人 |
松下电器产业株式会社 |
发明人 |
增尾昭;角谷范彦;辻村和树;小池刚 |
分类号 |
G11C11/413(2006.01);H01L27/11(2006.01) |
主分类号 |
G11C11/413(2006.01) |
代理机构 |
北京市金杜律师事务所 |
代理人 |
王茂华 |
主权项 |
1.一种半导体记忆装置,包括:多个存储单元排列成行列状的存储单元阵列,对上述存储单元的行设置的包含第一字线的多条字线,对上述存储单元的列设置的包含第一及第二比特线的多条比特线,对上述存储单元的列设置的包含第一及第二列线的多条列线,其特征在于:上述各存储单元,包括:设置在上述比特线中对应的第一比特线和第一记忆节点之间的、由上述字线中对应的上述第一字线控制的第一存取晶体管,设置在上述比特线中对应的第二比特线和第二记忆节点之间的、由上述第一字线控制的第二存取晶体管,具有上述第一及第二记忆节点的门闩电路,与上述第一存取晶体管并联连接、并且具有连接于上述第一列线的栅极端子的第三存取晶体管,以及与上述第二存取晶体管并联连接、并且具有连接于上述第二列线的栅极端子的第四存取晶体管。 |
地址 |
日本大阪府 |