发明名称 半导体记忆装置
摘要 谋取SRAM的动作范围的扩大,和相对于多列存储单元列具有一个输出入电路的SRAM的小面积化。在具有第一及第二负载晶体管(ML1、ML2)、第一及第二驱动晶体管(MD1、MD2)、和第一及第二存取晶体管(MA1、MA2)的存储单元(20)中,附加了:介于第一比特线(BL)及第一记忆节点(D)之间的,且具有连接于第一列线(CL1)的栅极端子的第三存取晶体管(WA1),和介于第二比特线(NBL)和第二记忆节点(ND)之间的,且具有连接于第二列线(CL2)的栅极端子的第四存取晶体管(WA2)。
申请公布号 CN101345082A 申请公布日期 2009.01.14
申请号 CN200810099898.7 申请日期 2008.06.06
申请人 松下电器产业株式会社 发明人 增尾昭;角谷范彦;辻村和树;小池刚
分类号 G11C11/413(2006.01);H01L27/11(2006.01) 主分类号 G11C11/413(2006.01)
代理机构 北京市金杜律师事务所 代理人 王茂华
主权项 1.一种半导体记忆装置,包括:多个存储单元排列成行列状的存储单元阵列,对上述存储单元的行设置的包含第一字线的多条字线,对上述存储单元的列设置的包含第一及第二比特线的多条比特线,对上述存储单元的列设置的包含第一及第二列线的多条列线,其特征在于:上述各存储单元,包括:设置在上述比特线中对应的第一比特线和第一记忆节点之间的、由上述字线中对应的上述第一字线控制的第一存取晶体管,设置在上述比特线中对应的第二比特线和第二记忆节点之间的、由上述第一字线控制的第二存取晶体管,具有上述第一及第二记忆节点的门闩电路,与上述第一存取晶体管并联连接、并且具有连接于上述第一列线的栅极端子的第三存取晶体管,以及与上述第二存取晶体管并联连接、并且具有连接于上述第二列线的栅极端子的第四存取晶体管。
地址 日本大阪府