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发明名称 DUAL CHANNEL SOURCE MEASUREMENT UNIT FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING
摘要
申请公布号 EP1721174(A4) 申请公布日期 2009.01.14
申请号 EP20050724486 申请日期 2005.03.02
申请人 QUALITAU, INC. 发明人 RAICHMAN, TAL;CUEVAS, PETER, P.;BORTHWICK, JAMES;CASOLO, MICHAEL, A.
分类号 G01R1/00;G01R31/00;G01R31/28;G01R31/319 主分类号 G01R1/00
代理机构 代理人
主权项
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