| 发明名称 | 存储器元件的测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种存储器元件的测试方法，适用于一测试机台，其中该测试机台具有第一存储器。该存储器元件的测试方法包括提供待测存储器元件。接着，依据该待测存储器元件的尺寸以及该测试机台的该第一存储器的尺寸，产生N个测试样本，其中该待测存储器元件的尺寸为该测试机台的该第一存储器的尺寸的N倍，且N＞1。再依序利用该N个测试样本，对该待测存储器元件进行测试。 | ||
| 申请公布号 | CN101345090A | 申请公布日期 | 2009.01.14 |
| 申请号 | CN200710128374.1 | 申请日期 | 2007.07.10 |
| 申请人 | 力晶半导体股份有限公司 | 发明人 | 林明鹤;巫政毅;黄鲁贤 |
| 分类号 | G11C29/48(2006.01) | 主分类号 | G11C29/48(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 陶凤波 |
| 主权项 | 1.一种存储器元件的测试方法，适用于一测试机台，其中该测试机台具有第一存储器，该存储器元件的测试方法包括下列步骤：提供待测存储器元件；依据该待测存储器元件的尺寸以及该测试机台的该第一存储器的尺寸，产生N个测试样本，其中该待测存储器元件的尺寸为该测试机台的该第一存储器的尺寸的N倍，且N＞1；以及依序利用该N个测试样本，对该待测存储器元件进行测试。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹科学工业园区 | ||