发明名称 |
Transistor mit reduziertem Gatewiderstand und verbesserter Verspannungsübertragungseffizienz und Verfahren zur Herstellung desselben |
摘要 |
Durch Entfernen eines oberen Bereichs einer komplexen Abstandshalterstruktur, etwa einer Dreifach-Abstandshalterstruktur, wird eine obere Fläche eines Zwischenabstandshalters freigelegt, wodurch das Entfernen des äußersten Abstandshalters und von Material des Zwischenabstandshalters in einem gut steuerbaren gemeinsamen Ätzprozess möglich ist. Folglich können Seitenwandbereiche der Gateeleketrode effizient für einen nachfolgenden Silizidierungsprozess freigelegt werden, während der restliche reduzierte Abstandshalter für ausreichende Prozesssicherheiten sorgt. Danach wird ein stark verspanntes Material abgeschieden, wodurch ein verbesserter Verspannungsübertragungsmechanismus bereitgestellt wird.
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申请公布号 |
DE102007030054(A1) |
申请公布日期 |
2009.01.02 |
申请号 |
DE200710030054 |
申请日期 |
2007.06.29 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES INC. |
发明人 |
WIATR, MACIEJ;BOSCHKE, ROMAN;JAVORKA, PETER |
分类号 |
H01L21/336;H01L21/8234;H01L27/088;H01L29/78 |
主分类号 |
H01L21/336 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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