用以修复记忆体之方法与装置

摘要

本发明系揭露一种方法与其装置，会从一测试机所传送之一修复指令，系致使一正在进行测试之积体电路将此积体电路中之一第一组记忆胞之失效位置，由此积体电路中之一第二组记忆胞所取代，而此修复指令系忽略此积体电路之第一组记忆胞之失效位置。