摘要 |
一种记忆体IC检测分类机(三),包含设于机台前端之供料匣及至少一个收料匣,设于机台后端之至少一个测试装置及定位装置,以及设于供、收料匣及测试装置间之移料装置;该供、收料匣系分别用以承置待/完测之记忆体IC,各测试装置则设有具复数个测试套座之测试电路板,移料装置系具有复数个顶压治具及取放头,而于供料匣移载复数个记忆体IC至定位装置进行定位,并于完成定位后将记忆体IC移载至测试装置之各测试套座上方,于顶压治具下压开启测试套座时,取放头即可将记忆体IC置入于之各测试套座内,于顶压治具上升关闭测试套座时,记忆体IC即可固定于测试套座内以进行测试作业;藉此,即可同时移载及测试复数个记忆体IC,以有效缩短待机时间,而大幅增加记忆体IC之检测产能,达到更加提升使用效率及产能之使用效益。 |