| 摘要 |
一种测颅片(Cephalogram)的影像分析方法。在此方法中，首先进行一建立参考资料库的步骤，藉以根据复数个历史描轨图，来建立分别代表复数个参考头颅型态的复数个描轨特征曲线模型。接着，进行一型态比对分析的步骤。在此型态比对分析的步骤中，首先输入至少一测颅片。接着，分别将至少一测颅片的影像与描轨特征曲线模型进行比对步骤，以自参考头颅型态和描轨特征曲线模型中选取出至少一头颅型态和属于此至少一头颅型态之至少一特征曲线模型。然后，将特征曲线模型套用至测颅片的影像上，以获得符合测颅片之影像的描轨图。 |
