发明名称 | 影像感测晶片污点检测系统及其检测方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种影像感测晶片污点检测系统,其包括:初始化设置模组,用于初始化设置准污点标准值范围以及污点标准值;影像获取模组,用于所获取之影像中获取各像素点之亮度值;计算模组,用于求取平均值以及其标准差值;比较模组,用于将平均值以及其标准差值分别与准污点标准值范围以及污点标准值相比较,以及标注模组,用于标注落入准污点标准值范围之准污点以及大于污点标准值范围之污点亮度值。利用上述检测影像感测晶片污点检测系统,避免了人工目检存在之主观因素以及其存在之漏检率,进而提高了检测合格率。本发明还提供一种上述影像感测晶片污点检测系统之检测方法。 | ||
申请公布号 | TW200900683 | 申请公布日期 | 2009.01.01 |
申请号 | TW096123700 | 申请日期 | 2007.06.29 |
申请人 | 鸿海精密工业股份有限公司 | 发明人 | 彭磊;王江平 |
分类号 | G01N21/88(2006.01) | 主分类号 | G01N21/88(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | |||
地址 | 台北县土城市自由街2号 |