发明名称 | 测试装置以及电子元件 | ||
摘要 | 提供一种测试装置,对被测试元件进行测试,该被测试元件具备在元件内部的内部电路与元件外部之间进行信号传输的外部介面电路。本发明的测试装置包括图案产生部、介面控制部及介面判定部。图案产生部将用以测试外部介面电路的测试图案输入至外部介面电路。介面控制部使外部介面电路返回输出测试图案。介面判定部根据外部介面电路返回输出的测试图案来判定外部介面电路的良否。 | ||
申请公布号 | TW200901212 | 申请公布日期 | 2009.01.01 |
申请号 | TW097111564 | 申请日期 | 2008.03.28 |
申请人 | 爱德万测试股份有限公司 | 发明人 | 渡边大辅;冈安俊幸 |
分类号 | G11C29/10(2006.01);G01R31/28(2006.01) | 主分类号 | G11C29/10(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |