发明名称 |
刻画玻璃带特性的方法和装置 |
摘要 |
一种方法和装置,用于测量在向下拉制玻璃形成工艺中形成的玻璃带的温度和/或位移,并且在带的宽度上进行测量。通过不与玻璃带接触的一种测量装置可以有利地执行温度和位移测量,同时具有高度的空间分辨率。实质上可以在带的整个宽度上执行温度测量。可以在自动反馈环路中使用测量装置显示的数据以控制玻璃带形成条件。 |
申请公布号 |
CN101336366A |
申请公布日期 |
2008.12.31 |
申请号 |
CN200680051769.X |
申请日期 |
2006.12.14 |
申请人 |
康宁股份有限公司 |
发明人 |
K·L·豪斯;L·K·克林史密斯;M·Y·西本;P·J·威索罗斯基 |
分类号 |
G01K1/00(2006.01);G01K13/12(2006.01) |
主分类号 |
G01K1/00(2006.01) |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 |
代理人 |
李玲 |
主权项 |
1.一种用于刻画玻璃带特性的装置,包括:外壳,它包括开口且被设置成至少围绕着通过向下拉制工艺形成的玻璃带的粘性和粘弹性区域;测量组件,它适用于通过对穿过开口的玻璃带的宽度进行扫描而测量玻璃带的至少一个属性。 |
地址 |
美国纽约州 |