发明名称 |
高密度存储器读出放大器 |
摘要 |
提供一种读取电阻性存储器阵列30的多状态存储器单元RW中数据的读出放大器38,包括具有第一和第二输入节点74,75的差分放大器Q5,Q6。读出电路A1,Q1,Q2利用施加其上的读电压VR确定存储器单元RW中的电流,并将代表存储器单元RW电流的检测电流施加到差分放大器的第一输入节点74。参考电路A2,Q3,Q4具有第一和第二电阻元件RH,RL,用于将参考电流施加到差分放大器的第二输入节点75,提供与读出电流作比较的对照参考值,以确定存储器单元RW的状态。第一电阻元件RH具有代表存储器单元RW第一状态的电阻,第二电阻元件RL具有代表存储器单元RW第二状态的电阻。参考电路A2,Q3,Q4提供参考电流,它是通过第一和第二电阻元件RH,RL电流的平均。比较器电器76将差分放大器第一和第二输入节点74,75上的信号作比较以提供表明被读出存储器单元RW状态的输出VO。 |
申请公布号 |
CN100447898C |
申请公布日期 |
2008.12.31 |
申请号 |
CN02143597.9 |
申请日期 |
2002.10.11 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
F·A·佩尔纳;A·L·范布洛克林;P·J·弗里克;J·R·小易通 |
分类号 |
G11C11/4091(2006.01) |
主分类号 |
G11C11/4091(2006.01) |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 |
代理人 |
邵亚丽 |
主权项 |
1.一种用于对施加在被读出存储器单元RM两端的读电压作出响应,读出电阻性存储器阵列30的多状态存储器单元RM中的数据的读出放大器38,包括:(a)具有第一和第二输入节点74,75的差分放大器Q5,Q6;(b)读出电路A1,Q1,Q2,用于利用施加其上的读电压确定存储器单元中的电流,和将代表存储器单元电流的读出电流施加到差分放大器Q5,Q6的第一输入节点74;和(c)具有第一和第二电阻元件RH,RL的参考电路A2,Q3,Q4,用于将平均参考电流施加到差分放大器Q5,Q6的第二输入节点75,参考电流提供与读出电流比较对照的值,用以确定存储器单元RM的状态,其中,所述第一电阻元件RH具有代表存储单元RW第一状态的第一电阻,而第二电阻元件RL具有代表存储单元RW第二状态的第二电阻,以及所述参考电路A2,Q3,Q4是用于产生作为通过第一和第二电阻元件RH,RL的电流平均的参考电流的平均电路,并且该平均电路包括平均元件A2,Q3,Q4,用于将通过第一和第二电阻元件RH,RL的电流相加,提供相加电流,并将相加电流分成一半以获得平均电流。 |
地址 |
韩国京畿道 |