| 发明名称 | 纠错装置和纠错方法 | ||
| 摘要 | 对于通过将预定模式(A)的虚设符号增加至数字信息序列所获得的数据序列生成纠错校验位序列，所述数字信息序列被调制以转变成满足再现系统请求的形式。如果校验位序列满足所述再现系统请求，则以所述信息序列和奇偶比特序列彼此对应的方式输出不包括所述虚设符号和所述校验位序列的所调制数字信息序列。如果校验位序列不满足所述再现系统请求，则将另一预定模式(B)的虚设符号增加至所调制数字信息序列，从而生成纠错校验位序列。 | ||
| 申请公布号 | CN101335040A | 申请公布日期 | 2008.12.31 |
| 申请号 | CN200810130279.X | 申请日期 | 2008.06.23 |
| 申请人 | 株式会社东芝 | 发明人 | 吉田贤治 |
| 分类号 | G11B20/18(2006.01);H03M13/05(2006.01) | 主分类号 | G11B20/18(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市中咨律师事务所 | 代理人 | 杨晓光;李峥 |
| 主权项 | 1.一种纠错装置，其特征在于，该装置包括：生成单元(20-22)，被配置为，对于增加有预定模式(A)的虚设符号的数据序列生成纠错校验位序列，将所述虚设符号增加至数字信息序列的特定位置，所述数字信息序列已经经过了转变成满足再现系统请求的形式的调制处理；和控制单元(14，23)，被配置为，如果在所述生成单元(20至22)生成的校验位序列不对应于满足所述再现系统请求的形式，则所述控制单元通过将另一预定模式(B)的虚设符号增加至所调制数字信息序列，来生成纠错校验位序列。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||