发明名称 |
相变存储器 |
摘要 |
本发明揭示了一种相变存储器,包括若干存储单元、列选通电路与译码器、读比较电阻、灵敏放大器、读写驱动电路、行译码器;所述各存储单元的位线接入所述列选通电路与译码器,各存储单元的字线接入所述行译码器;所述列选通电路与译码器连接所述读写驱动电路、及灵敏放大器,所述读写驱动电路通过读比较电阻连接所述灵敏放大器;所述各存储单元包括一个选通二极管及至少两个相变存储单元;所述各相变存储单元并联后与所述选通二极管连接。本发明的相变存储器采用1DnR存储单元结构,从而减少了选通二极管占用的芯片面积。 |
申请公布号 |
CN101335046A |
申请公布日期 |
2008.12.31 |
申请号 |
CN200810041414.3 |
申请日期 |
2008.08.05 |
申请人 |
中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
发明人 |
富聪;宋志棠;蔡道林;封松林 |
分类号 |
G11C11/56(2006.01);G11C16/08(2006.01) |
主分类号 |
G11C11/56(2006.01) |
代理机构 |
上海光华专利事务所 |
代理人 |
余明伟 |
主权项 |
1、一种相变存储器,包括若干存储单元、列选通电路与译码器、读比较电阻、灵敏放大器、读写驱动电路、行译码器;所述各存储单元的位线接入所述列选通电路与译码器,各存储单元的字线接入所述行译码器;所述列选通电路与译码器连接所述读写驱动电路、及灵敏放大器,所述读写驱动电路通过读比较电阻连接所述灵敏放大器;其特征在于:所述各存储单元包括一个选通二极管及至少两个相变存储单元;所述各相变存储单元并联后与所述选通二极管连接。 |
地址 |
200050上海市长宁区长宁路865号 |