发明名称 |
设计驱动器的方法 |
摘要 |
本发明披露了一种设计包括匹配级的驱动器的方法,其中匹配级具有彼此匹配的晶体管,该方法包括使用匹配级中电流变化解析由多个晶体管的失配特性差别引起的偏移。可以使用偏移的解析结果来确定晶体管的尺寸,且可以调整尺寸直到通过使用测得的匹配信息和晶体管的确定的尺寸的仿真获取的驱动器的仿真成品率接近目标成品率。所得到的确定的尺寸可以用来制造驱动器,以获取制造的驱动器的测试成品率。如果测试成品率不是目标成品率,则可以调整测得的匹配信息直到由仿真获取的驱动器的调整的成品率接近测试成品率。因此,驱动器的偏移可以最小化,使之有可能改进驱动器的输出特性、将面积最优化、提高成品率、减少芯片开发过程中的修改频率、和/或缩短芯片设计的周期。 |
申请公布号 |
CN101334959A |
申请公布日期 |
2008.12.31 |
申请号 |
CN200810127819.9 |
申请日期 |
2008.06.25 |
申请人 |
东部高科股份有限公司 |
发明人 |
苏淳晚 |
分类号 |
G09G3/20(2006.01);G06F17/50(2006.01) |
主分类号 |
G09G3/20(2006.01) |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
余刚;尚志峰 |
主权项 |
1.一种方法,包括设计具有匹配级的驱动器,所述匹配级具有匹配晶体管,其中所述设计包括:使用匹配级中的电流变化解析由多个晶体管的失配特性差别引起的偏移;使用所述偏移的解析结果确定所述晶体管的尺寸,并重新确定所述尺寸,直到所述驱动器的仿真成品率接近目标成品率,其中,所述仿真成品率通过使用测得的匹配信息和所确定的所述晶体管的尺寸进行仿真而获得;使用所得到的确定的尺寸来制造所述驱动器并获得所制造的驱动器的测试成品率;以及如果所述测试成品率不是所述目标成品率,则调整所述测得的匹配信息,直到通过所述仿真获得的所述驱动器的调整的成品率接近所述测试成品率。 |
地址 |
韩国首尔 |