发明名称 多层介质材料多参量测量方法与系统
摘要 本发明提出了一种通过一次测量同时获取多层材料的多电磁参量方法,通过一次电磁反射角谱的实验测量,并以反射角谱中最小(或最大)反射时的角度为依据,经优化计算,实现对多层介质材料各层厚度和折射率的同时精确确定。在本发明中,入射到多层材料系统某一工作频率的电磁波能量,在各层材料界面透射和反射,入射表面的反射电磁波能量被测量接收器接收。不断调整入射波的角度和接收器的角度,使得反射能量达到一个极值。设该入射角为已知值,利用模拟退火算法对多层材料的各参量进行优化搜索,结果即是被测多参量的结果。该方法可应用于遥感参量反演、激光表面等离子体测量等领域,也可推广到声学多层材料的多参量测量领域,具有高效准确的特点。
申请公布号 CN101334269A 申请公布日期 2008.12.31
申请号 CN200810117785.5 申请日期 2008.08.06
申请人 北京航空航天大学 发明人 何云涛;江月松
分类号 G01B11/06(2006.01);G01N21/41(2006.01) 主分类号 G01B11/06(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种针对多层介质材料的多参量测量方法和系统,其主要特征是:所述的多层介质材料的多参量测量系统由电磁波发射与接收子系统、夹载固定在转动平台之上的被测多层介质材料和转动平台组成的旋转台子系统组成,其具体测量方法包括两个步骤:(1)实际测量,即旋转台子系统,使得入射波角度在0°~90°范围变化,测量相应的反射波能量,得到一组入射角-反射能量曲线;(2)反演计算,即以最小(或最大)反射能量所对应的入射角为已知值,根据多层材料的反射能量计算公示,应用模拟退火算法的多参量反演计算,得到多层介质材料各层的厚度和折射率。
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