| 摘要 |
1. Способ тестирования компонентов микропроцессоров, по которому тестирование организуют в виде последовательности тактов работы тестируемого компонента, при этом в начале каждого такта с помощью генератора тестовой последовательности создают очередное обращение к тестируемому компоненту и передают все входящие в это обращение сигналы тестируемому компоненту и оракулу, в конце каждого такта оракулу передают все выходные сигналы тестируемого компонента, и производят оценку их корректности в качестве ответов на все поступившие до этого момента входные сигналы, если оракул обнаруживает ошибку в виде несоответствия полученных результатов требованиям к тестируемому компоненту, то тест завершают и выдают сообщение о найденной ошибке, если оракул ошибок не обнаруживает, то продолжают тестирование, по окончании тестовой последовательности с помощью генератора тестовой последовательности создают нулевые входные сигналы столько раз, сколько тестируемому компоненту требуется для выдачи ответов на все ранее поданные входные сигналы, при этом с помощью оракула проверяют их корректность, если оракул обнаружит ошибку, то тест завершают и выдают сообщение о найденной ошибке, если оракул за все время тестирования не обнаружит ошибку, то после получения ответов на все ранее поданные входные сигналы делают вывод о корректной работе тестируемого компонента, тест завершают и сообщают об успешном завершении тестирования, при этом генератор тестовой последовательности строят из сценария, описывающего набор различных способов обращения к тестируемому компоненту, а оракул с помощью транслятора модели требований � |
