发明名称 |
计算机系统中的存储器装置 |
摘要 |
本发明涉及计算机系统中的存储器装置(1),其具有至少一个包含半导体组件(3)的存储器模块(2),所述半导体组件(3)被布置在该存储器模块(2)上,可以按并行方式工作并附加地经串行线(6,13,14)相互连接,所述存储器装置(1)具有用于模块特定地驱动所述半导体组件(3)的接口总线(4),以及由存储控制器(5)经所述接口总线(4)驱动的接口(7),该存储控制器(5)被分配给所述存储器模块(5),该接口(7)经所述串行线(6,13,14)访问所述存储器模块(2),由此,能够在正常工作期间,以接近应用的方式对所述半导体组件(3)进行器件特定的测试和调整。 |
申请公布号 |
CN100444122C |
申请公布日期 |
2008.12.17 |
申请号 |
CN200410058845.2 |
申请日期 |
2004.07.30 |
申请人 |
因芬尼昂技术股份公司 |
发明人 |
M·佩纳 |
分类号 |
G06F11/22(2006.01);G11C29/00(2006.01) |
主分类号 |
G06F11/22(2006.01) |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
余刚;李丙林 |
主权项 |
1.计算机系统中的存储器装置(1),具有-至少一个包含半导体组件(3)的存储器模块(2),所述半导体组件(3)被布置在该存储器模块(2)上以及可以按并行方式工作并经串行线(6,13,14)相互连接,-接口总线(4),该接口总线(4)驱动所述半导体组件(3),以及-由存储控制器(5)经所述接口总线(4)驱动的接口(7),该存储控制器(5)被分配给所述存储器模块(5),该接口(7)经所述串行线(6,13,14)访问所述半导体组件(3),其中,经所述接口(7)能够在正常工作期间,对设定用于一应用的所述半导体组件(3)运行状态和参数进行测试和调整。 |
地址 |
联邦德国慕尼黑 |