Anordnung zur Feststellung und Messung von durch Schlieren oder optische Fehler bedingten Strahlenaberrationen,申请号DE1957D025936-传众专利搜索

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法人/股东/高管

发明名称	Anordnung zur Feststellung und Messung von durch Schlieren oder optische Fehler bedingten Strahlenaberrationen
摘要
申请公布号	DE1110913(B)	申请公布日期	1961.07.13
申请号	DE1957D025936	申请日期	1957.07.05
申请人	DEUTSCHE AKADEMIE DER WISSENSCHAFTEN ZU BERLIN	发明人	LAU DR. ERNST;SCHALGE RUDI
分类号	G02B27/54	主分类号	G02B27/54
代理机构		代理人
主权项
地址

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