发明名称 DISPOSITIF DE MESURE DE RESISTANCE COMPORTANT UN CIRCUIT D'ETALONNAGE AUTOMATIQUE
摘要 <P>L'invention concerne les dispositifs de mesure de résistance. Le dispositif de l'invention comporte essentiellement un capteur 12 dont la résistance varie en fonction d'un paramètre mesuré, un pont de mesure de résistance qui fournit une grandeur de sortie indiquant la valeur du paramètre mesuré, et un séquenceur 110 qui commande le fonctionnement du dispositif de façon qu'il effectue automatiquement un cycle d'étalonnage avant chaque cycle de mesure, ce qui permet d'obtenir des mesures très precises sur de longues durées. </P><P>Application aux sondes océanographiques de mesure de température.</P>
申请公布号 FR2362403(A1) 申请公布日期 1978.03.17
申请号 FR19770011455 申请日期 1977.04.15
申请人 SIPPICAN CORP 发明人
分类号 G01D3/02;G01K7/24;G01K15/00;G01R15/00;G01R17/10;G01R17/16;G01R19/00;G01R35/00;(IPC1-7):G01R27/02;G01D3/06 主分类号 G01D3/02
代理机构 代理人
主权项
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