发明名称 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM MESSEN DER RICHTUNGSVERTEILUNG DER VON EINEM TEILCHEN ZURUECKGESTRAHLTEN STRAHLUNGSENERGIE ZUR TEILCHENCHARAKTERISIERUNG
摘要
申请公布号 DE3000033(A1) 申请公布日期 1980.07.31
申请号 DE19803000033 申请日期 1980.01.02
申请人 COULTER ELECTRONICS INC. 发明人 R. HOGG,WALTER
分类号 G01N15/14;G01N21/05;(IPC1-7):G01N15/02;G01N33/16 主分类号 G01N15/14
代理机构 代理人
主权项
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