首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 METHOD OF DETERMINING STATISTICAL PARAMETERS OF SEMICONDUCTOR MATERIAL SPECIFIC RESISTANCE
摘要
申请公布号 SU896581(A1) 申请公布日期 1982.01.07
申请号 SU19772517171 申请日期 1977.08.12
申请人 FIZIKO-TEKHNICHESKIJ I IM.A.F.IOFFE 发明人 SHMIDT VLADIMIR A,SU;SOBOLEV NIKOLAJ A,SU
分类号 G01R27/08;(IPC1-7):G01R27/08 主分类号 G01R27/08
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com