| 摘要 |
<P>L'invention concerne un microprocesseur pourvu d'une mémoire et ayant une fonction de correction d'erreurs.</P><P>Ce microprocesseur comprend un circuit de test de chiffre binaire déficient pour effectuer un test de chiffre binaire déficient en successivement engendrant un motif prédéterminé de quatre types de motifs de données de test comprenant toutes les configurations de chiffres binaires qui peuvent se produire habituellement dans une mémoire, dans le but d'écrire les motifs de données de test ainsi engendrés dans la mémoire, l'unité centrale de celle-ci ne fonctionnant seulement pour déterminer des conditions.</P><P>L'invention est utilisable pour des mémoires ayant une fonction de test de chiffre binaire déficient.</P>
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