首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
PROBE FOR FLAW DETECTION
摘要
申请公布号
JPH02269957(A)
申请公布日期
1990.11.05
申请号
JP19890092166
申请日期
1989.04.12
申请人
MITSUI PETROCHEM IND LTD;CHUGOKU X-RAY KK
发明人
OTA RYOHEI;HIOKI OSAMU;TAKATANI MITSUHIRO;KITAO KAZUNORI;KOKUBO HISAO
分类号
G01N27/90
主分类号
G01N27/90
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
检测设备
一种智能家居床用自动定位式LED灯
高强高耐热烧嘴砖
平板灯
一种TFT-LCD背光膜组用光学薄膜的制造装置
一种多品种碳酸钙粉筛选烘干装置
深冷分离及生产低纯度氧、高纯度氧和氮的装置
一种全智能标高仪及标高系统
一种取样式海洋环境在线监测装置
可快速平衡相邻箱体之间压力的隧道式烘烤单元及其烘烤线
一种液晶面板放置架的卡夹
具备听诊器功能的智能手表
用于新风机的加湿装置
一种用于纺织品烘干的设备
一种空调节能开关装置
高效能气热转换装置
换热器
一种全海深位移传感器
智能家居用智能LED照明装置
肝素用酒精回收冷凝器