| 摘要 |
<p>In der Elektronenstrahlmeßtechnik sind neben Messungen im Zeitbereich oft auch Messungen im Frequenzbereich erforderlich. Nach dem erfindungsgemäßen Verfahren wird dazu das Ausgangssignal des Lokaloszillators eines Spekktrumanalysators, wie er aus der herkömmlichen Hochfrequenz-Meßtechnik bekannt ist, einer ersten Frequenzkonversion unterworfen und danach zur Modulation des Primärstrahlsherangezogen. Aufgrund des Potentialkontrasts als einer multiplikativen Wechselwirkung und des modulierten Primärstrahls wird das unter Umständen sehr hochfrequente zu analysierende Signal auf eine leicht zu detektierende niedrige Zwischenfrequenz transformiert. Danach wird dieses Zwischenfrequenzsignal durch eine zweite Frequenzkonversion in eine Eingangsfrequenzebene des Spektrumanalysators transferiert. Dabei kann es sich sowohl um die variable Eingangsselektionsfrequenz als auch um die festen Zwischenfrequenzen des Spektrumanalysators handeln. Das Meßergebnis erscheint in gewohnter Weise auf dem Display des Spektrumanalysators.</p> |
