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经营范围
发明名称
FIFO TEST DIAGNOSTIC CIRCUIT
摘要
申请公布号
JPH0522360(A)
申请公布日期
1993.01.29
申请号
JP19910195966
申请日期
1991.07.10
申请人
NEC CORP;NEC ENG LTD
发明人
WAKABAYASHI HIROSHI;HAGITANI NORIKAZU
分类号
G06F12/16;G11C7/00;H04L29/00;H04L29/14
主分类号
G06F12/16
代理机构
代理人
主权项
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