TEST PATTERN GENERATION MEMORY UNIT FOR IC TESTER,申请号JP19910353915-传众专利搜索

发明名称	TEST PATTERN GENERATION MEMORY UNIT FOR IC TESTER
摘要
申请公布号	JPH05196695(A)	申请公布日期	1993.08.06
申请号	JP19910353915	申请日期	1991.12.19
申请人	ANDO ELECTRIC CO LTD	发明人	YAMABE MORIHIRO
分类号	G01R31/3183;G01R31/28	主分类号	G01R31/3183
代理机构		代理人
主权项
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