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Geschaffen wird eine Speichertestschaltung mit: einem Ausgabedatenselektor, der konfiguriert ist, um die Mehrzahl von Lesedatenbits zu empfangen und einen Bruchteil der Mehrzahl von Lesedatenbits als eine Mehrzahl von Bruchteildatenbits auszugeben; und einer Steuerschaltung, die konfiguriert ist, um einen Satz von Bitpositionen in der Mehrzahl von Lesedatenbits auszuwählen, deren entsprechende Werte die Mehrzahl von Bruchteildatenbits bilden, wobei der ausgewählte Satz von Bitpositionen aus einer Mehrzahl von möglichen Sätzen von Bitpositionen auswählbar ist, wobei jede tatsächliche Bitposition in der Mehrzahl von Lesedatenbits in zumindest einem der möglichen Sätze von Bitpositionen enthalten ist, und wobei eine Bruchteillänge der Mehrzahl von Bruchteildatenbits kleiner als eine volle Länge der Mehrzahl von Lesedatenbits ist.
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