发明名称 封装体
摘要 本发明提供一种封装体。上述封装体具有:第一导体垫于一半导体基底上;第二导体垫于一封装基底上;以及一凸块连接于上述第一导体垫与上述第二导体垫之间,其中上述凸块与上述第一导体垫具有第一界面,上述第一界面具有第一线性尺寸,而上述凸块与上述第二导体垫具有第二界面,上述第二界面具有第二线性尺寸,上述第一线性尺寸与上述第二线性尺寸的比值为0.7至1.7,上述凸块为实质上无铅、或其铅含量高于80%。本发明所述的封装体,有效的解决了封装领域无铅与高铅软焊料凸块的破裂问题。且不需要使用高强度的底胶材料,而可避免对低介电常数材料造成伤害。
申请公布号 CN100428459C 申请公布日期 2008.10.22
申请号 CN200510127723.9 申请日期 2005.12.02
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 卢思维;李新辉;王忠裕;李明机
分类号 H01L23/488(2006.01) 主分类号 H01L23/488(2006.01)
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人 刘新宇
主权项 1.一种封装体,其特征在于,所述封装体包含:一第一导体垫于一半导体基底上;一第二导体垫于一封装基底上;以及一凸块连接于该第一导体垫与该第二导体垫之间,其中该凸块与该第一导体垫具有一第一界面,该第一界面具有第一线性尺寸,而该凸块与该第二导体垫具有一第二界面,该第二界面具有第二线性尺寸,该第一线性尺寸与该第二线性尺寸的比值为0.7至1.7。
地址 中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行六路八号